UNI EN 13925-3 : 2005
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NON-DESTRUCTIVE TESTING - X RAY DIFFRACTION FROM POLYCRYSTALLINE AND AMORPHOUS MATERIALS - PART 3: INSTRUMENTS
11-29-2005
PREMESSA
INTRODUZIONE
1 SCOPO E CAMPO DI APPLICAZIONE
2 RIFERIMENTI NORMATIVI
3 TERMINI E DEFINIZIONI
4 DESCRIZIONE DELL'ATTREZZATURA
4.1 Generalità
4.2 Sorgenti di raggi X
4.2.1 Generalità
4.2.2 Sorgenti di raggi X convenzionali (tubi
sigillati e sorgenti ad anodo rotante)
4.2.3 Sorgenti di radiazioni a sincrotrone
4.3 Ottiche dei fasci di raggi X incidenti e diffratti
4.3.1 Generalità
4.3.2 Monocromatori
4.3.3 Dimensioni e geometria del fascio
4.4 Rivelatori
4.4.1 Tipi di rivelatore
4.4.2 Risoluzione spaziale dei rivelatori
4.4.3 Risoluzione in energia dei rivelatori
4.5 Goniometri
4.5.1 Generalità
4.5.2 Posizionamento del provino
4.6 Porta provino
4.7 Sistema di raccolta dati
5 CARATTERIZZAZIONE DEI COMPONENTI DELL'ATTREZZATURA
6 ALLINEAMENTO E TARATURA DELL'ATTREZZATURA
6.1 Generalità
6.2 Allineamento
6.3 Taratura
7 PROVA E MONITORAGGIO DELLE PRESTAZIONI
APPENDICE A (informativa) - RELAZIONI TRA LE NORME XRPD
APPENDICE B (informativa) - ALLINEAMENTO DEI DIFFRATTOMETRI
DI BRAGG-BRENTANO
APPENDICE C (informativa) - PROCEDURE PER LA CARATTERIZZAZIONE
DELLE PRESTAZIONI DELLO STRUMENTO
C.1 Generalità
C.2 Posizione, intensità e ampiezza di un numero
limitato di linee di diffrazione
C.3 Curva di scostamento angolare
C.4 Ampiezza della linea
C.5 Diagrammi di intensità
C.6 Curva di analisi della forma
C.7 Parametri reticolari
C.8 L'uso del metodo dei parametri fondamentali
C.9 Interpolazione nel diffrattogramma intero
APPENDICE D (informativa) - MODELLI TIPO DI RAPPORTO PER
LA CARATTERIZZAZIONE DEGLI STRUMENTI
BIBLIOGRAFIA
Defines the characteristics of instruments used for X-ray powder diffraction as a basis for their control and hence quality assurance of the measurements made by this technique.
Committee |
CT 36
|
DocumentType |
Standard
|
PublisherName |
Ente Nazionale Italiano di Unificazione (UNI)
|
Status |
Current
|
Standards | Relationship |
UNE-EN 13925-3:2006 | Identical |
BS EN 13925-3:2005 | Identical |
EN 13925-3:2005 | Identical |
NBN EN 13925-3 : 2005 | Identical |
NF EN 13925-3 : 2005 | Identical |
NEN EN 13925-3 : 2005 | Identical |
NS EN 13925-3 : 1ED 2005 | Identical |
I.S. EN 13925-3:2005 | Identical |
SN EN 13925-3 : 2005 | Identical |
DIN EN 13925-3:2005-07 | Identical |
ISO 5725-1:1994 | Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — Part 1: General principles and definitions |
EN 13925-1:2003 | Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous material - Part 1: General principles |
EN 13925-2:2003 | Non-destructive testing - X-ray diffraction from polycrystalline and amorphous materials - Part 2: Procedures |
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