NF ISO 22493 : 2009
Withdrawn
A Withdrawn Standard is one, which is removed from sale, and its unique number can no longer be used. The Standard can be withdrawn and not replaced, or it can be withdrawn and replaced by a Standard with a different number.
MICROBEAM ANALYSIS - SCANNING ELECTRON MICROSCOPY - VOCABULARY
12-15-2017
01-12-2013
Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Termes abrégés
3 Termes utilisés dans les bases physiques de la MEB
4 Termes utilisés dans l'instrumentation pour MEB
5 Termes utilisés dans la formation et le traitement
des images MEB
6 Termes utilisés dans l'interprétation et l'analyse
des images MEB
7 Termes utilisés pour le mesurage et l'étalonnage du
grandissement et de la résolution d'image MEB
Bibliographie
Index alphabétique
La présente Norme internationale définit les termes utilisés dans les applications de la microscopie électronique à balayage (MEB). Elle couvre des concepts généraux et des concepts spécifiques, hiérarchisés selon un ordre systématique, et inclut les termes déjà définis dans l'ISO 23833, le cas échéant. La présente Norme internationale s'applique à tous les documents de normalisation relatifs à la pratique de la MEB. Certains articles de la présente Norme internationale s'appliquent également aux documents relevant de domaines apparentés (par exemple l'EPMA, la MEA, l'EDS) pour la définition des termes qui sont pertinents dans ces domaines.
| DevelopmentNote |
Indice de classement: X21-010. PR NF ISO 22493 January 2007. (01/2007)
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| DocumentType |
Standard
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| PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
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| Status |
Withdrawn
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| Standards | Relationship |
| ISO 22493:2014 | Identical |
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