NF EN 13925-3 : 2005

Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Description de l'appareillage
  4.1 Généralités
  4.2 Sources de rayons X
      4.2.1 Généralités
      4.2.2 Sources de rayons X conventionnelles (tubes
            scellés et générateurs à anode tournante)
      4.2.3 Source de rayonnement synchrotron
  4.3 Optiques primaire et secondaire
      4.3.1 Généralités
      4.3.2 Monochromateurs
      4.3.3 Dimensions et géométrie du faisceau
  4.4 Détecteurs
      4.4.1 Types de détecteurs
      4.4.2 Résolution spatiale des détecteurs
      4.4.3 Résolution énergétique des détecteurs
  4.5 Goniomètres
      4.5.1 Généralités
      4.5.2 Positionnement de l'éprouvette
  4.6 Porte-éprouvette
  4.7 Système d'acquisition des données
5 Caractérisation des composants de l'appareillage
6 Alignement et étalonnage des appareils
  6.1 Généralités
  6.2 Alignement
  6.3 Étalonnage
7 Controle et maîtrise de la performance
Annexe A (informative) Relations entre les normes relatives à
                       la DRXP (Liens entre les sujets dans
                       les différentes normes)
Annexe B (informative) Alignement des diffractomètres à
                       géométrie Bragg-Brentano
Annexe C (informative) Procédures relatives à la
                       caractérisation de la performance de
                       l'appareillage
Annexe D (informative) Formulaires types de rapport pour la
                       caractérisation des appareillages
Bibliographie

Defines the characteristics of instruments used for X-ray powder diffraction as a basis for their control and hence quality assurance of the measurements made by this technique.