DIN IEC 60747-2:2001-02
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SEMICONDUCTOR DEVICES - DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS - PART 2: RECTIFIER DIODES
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German
01-01-2001
Vorwort
Einleitung
1 Anwendungsbereich
2 Normative Verweisungen
3 Begriffe
3.1 Allgemeine Begriffe
3.2 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
Kennwerten: Spannungen
3.3 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
Kennwerten: Ströme
3.4 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
Kennwerten: Verlustleistungen
3.5 Begriffe im Zusammenhang mit Bemessungs- und
Kennwerten: Sonstige Kennwerte
4 Kurzzeichen
4.1 Allgemeines
4.2 Zusätzliche allgemeine Indizes
4.2.1 Für Ströme, Spannungen und Leistungen
4.2.2 Für elektrische Parameter
4.3 Liste der Kurzzeichen
4.3.1 Spannungen
4.3.2 Ströme
4.3.3 Leistungen
4.3.4 Schaltverhalten
5 Wesentliche Bemessungs- und Kennwerte
5.1 Allgemeines
5.1.1 Anwendungsbereich
5.1.2 Verfahren für die Angabe der Bemessungswerte
5.1.3 Empfohlene Temperaturen
5.2 Bedingungen für Bemessungswerte
5.2.1 Umgebungsbezogene Gleichrichterdioden
5.2.2 Gehäusebezogene Gleichrichterdioden
5.3 Bemessungswerte für Spannung und Strom (Grenzwerte)
5.3.1 Nicht-periodische Spitzensperr spannung
(U[RSM])
5.3.2 Periodische Spitzensperrspannung (U[RRM])
5.3.3 Scheitelsperrspannung (U[RWM])
5.3.4 Gleichsperrspannung (U[R]) (falls erforderlich)
5.3.5 Dauergrenzstrom (I[FAV])
5.3.6 Periodischer Spitzen-Durchlassstrom (I[FRM])
(falls erforderlich) (besonders bei
schnellschaltenden Dioden)
5.3.7 Überlast-Durchlassstrom (I ([0V]))
5.3.8 Stossstrom-Grenzwert (I[FSM])
5.3.9 Durchlass-Gleichstrom (I[F])
5.3.10 Gehäusebruchstrom zerstörender Spitzenstrom
(I[RSMC])
5.4 Frequenz-Bemessungswerte (Grenzwerte)
5.5 Verlustleistungs-Bemessungswerte
5.5.1 Stoss-Sperrverlustleistung (für
Lawinen-Gleichrichterdioden und solche mit
eingegrenztem Durchbruchbereich)
5.5.2 Periodische Spitzen-Sperrverlustleistung (für
Lawinen-Gleichrichterdioden mit eingegrenztem
Durchbruchbereich)
5.5.3 Mittlere Sperrverlustleistung (für
Lawinen-Gleichrichterdioden mit eingegrenztem
Durchbruchbereich)
5.6 Temperatur-Bemessungswerte (Grenzwerte)
5.6.1 Kühlmittel- (T[a]) oder Bezugspunkttemperaturen
(T[ref]) (für umgebungsbezogene oder
gehäusebezogene Gleichrichterdioden)
5.6.2 Lagerungstemperaturen (T[stg])
5.6.3 Ersatzsperrschichttemperatur (T[vj]) (falls
erforderlich)
5.7 Elektrische Kennwerte
5.7.1 Durchlasskennwerte (falls erforderlich)
5.7.2 Durchlassspannung (unter thermischen
Gleichgewichtsbedingungen)
5.7.3 Durchbruchspannung (U[BR]) (einer
Lawinen-Gleichrichterdiode, für nicht-periodische
Anwendung)
5.7.4 Periodischer Spitzensperrstrom (I[RM])
5.7.5 Gesamtverlustleistung (P[tot])
5.7.6 Höchste Gesamtenergie für einen
Durchlassstromimpuls in Form einer
Sinus-Halbschwingung (falls erforderlich)
(speziell für schnell schaltende Dioden)
5.7.7 Sperrverzögerungsladung (Q[r]) (falls
erforderlich)
5.7.8 Rückstromspitze (I[RM]) (falls erforderlich)
5.7.9 Sperrverzögerungszeit (t[rr]) (falls
erforderlich)
5.7.10 Durchlassverzögerungszeit (t[fr]) (falls
erforderlich)
5.7.11 Spitzen-Durchlassverzögerungsspannung (U[FRM])
(falls erforderlich)
5.7.12 Abklingsanftheit (F[RRs]) (falls erforderlich)
5.8 Thermische Kennwerte (falls erforderlich)
5.8.1 Transienter Wärmewiderstand (Z[th](t))
5.9 Mechanische Kennwerte und andere Daten
5.10 Anwendungsdaten
5.10.1 Betrieb im eingeschwungenen Zustand
(einschliesslich Überlast)
5.10.2 Transiente Bedingungen
6 Anforderungen an Typprüfungen und Stückprüfungen;
Aufschriften auf Gleichrichterdioden
6.1 Typprüfungen
6.2 Stückprüfungen
6.3 Mess- und Prüfverfahren
6.4 Aufschriften auf Gleichrichterdioden
7 Mess- und Prüfverfahren
7.1 Messverfahren für elektrische Kennwerte
7.1.1 Allgemeine Regeln
7.1.2 Durchlassspannung
7.1.3 Durchbruchspannung (U([BR])) von
Lawinen-Gleichrichterdioden und solchen mit
eingegrenztem Durchbruchbereich
7.1.4 Sperrstrom
7.1.5 Sperrverzögerungsladung und Sperrverzögerungszeit
(Q[r], t[rr])
7.1.6 Durchlassverzögerungszeit (t[fr]) und
Spitzen-Durchlassverzögerungsspannung(U[FRM])
7.2 Messverfahren für thermische Kennwerte
7.2.1 Bezugspunkttemperatur
7.2.2 Wärmewiderstand und transienter Wärmewiderstand
7.3 Prüfverfahren zur Überprüfung von Bemessungswerten
(Grenzwerten)
7.3.1 Stossstrom
7.3.2 Nicht-periodische Spitzensperrspannung(U[RSM])
7.3.3 Spitzensperrverlustleistung (periodisch oder
nicht-periodisch) (P[RRM], P[RSM]) von
Lawinen-Gleichrichterdioden und solchen mit
eingegrenztem Durchbruchbereich
7.3.4 Gehäusebruchstrom
7.4 Dauerprüfung
7.4.1 Verzeichnis der Dauerprüfungen
7.4.2 Bedingungen für Dauerprüfungen
7.4.3 Ausfallkriterien und Merkmale für
Annahmeprüfungen
7.4.4 Merkmale und Ausfallkriterien für
Zuverlässigkeitsprüfungen
7.4.5 Vorgehen im Falle eines Prüffehlers
7.4.6 Prüfung mit thermischen Lastwechseln
Anhang A (informativ) Berechnung der Erwärmung bei zeitlich
veränderlicher Belastung
Die vorliegende Norm enthält Festlegungen für die nachfolgenden Bauelemente-Gruppen und Untergruppen. Gleichrichterdioden, einschliesslich: - Lawinen - Gleichrichterdioden; - Lawinen - Gleichrichterdioden mit eingegrenztem Durchbruchbereich; - schnell schaltende Gleichrichterdioden.
DevelopmentNote |
Supersedes DIN 41782, DIN 41783 and DIN 41794-8 (07/2002)
|
DocumentType |
Standard
|
Pages |
55
|
PublisherName |
German Institute for Standardisation (Deutsches Institut für Normung)
|
Status |
Current
|
Supersedes |
Standards | Relationship |
IEC 60747-2:2016 | Identical |
IEC 60747-1:2006+AMD1:2010 CSV | Semiconductor devices - Part 1: General |
DIN IEC 60747-1:1987-03 | SEMICONDUCTOR DEVICES; DISCRETE DEVICES AND INTEGRATED CIRCUITS; GENERAL |
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