NF ISO 24173 : 2009
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MICROBEAM ANALYSIS - GUIDELINES FOR ORIENTATION MEASUREMENT USING ELECTRON BACKSCATTER DIFFRACTION
01-12-2013
Avant-propos
Introduction
1 Domaine d'application
2 Références normatives
3 Termes et définitions
4 Équipement EBSD
5 Conditions de fonctionnement
6 Étalonnages requis pour l'indexation des clichés EBSP
7 Procédure d'analyse
8 Incertitude de mesure
9 Présentation des résultats d'analyse
Annexe A (informative) - Principe de l'EBSD
Annexe B (normative) - Préparation de l'échantillon pour
l'EBSD
Annexe C (informative) - Brève introduction à la
cristallographie, à l'indexation du cliché
EBSP, et autres informations utiles pour
l'EBSD
Bibliographie
La présente Norme internationale fournit des recommandations sur la façon de produire des mesures d'orientation cristallographique fiables et reproductibles en utilisant la diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD). Elle aborde les conditions de préparation des échantillons, la configuration de l'instrument, l'étalonnage et l'acquisition des données.
| DevelopmentNote |
Indice de classement: X21-011. PR NF ISO 24173 July 2008. (07/2008)
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| DocumentType |
Standard
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| PublisherName |
Association Francaise de Normalisation
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| Status |
Current
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| Standards | Relationship |
| ISO 24173:2009 | Identical |
| ISO/IEC 17025:2005 | General requirements for the competence of testing and calibration laboratories |
| ISO/IEC Guide 98-3:2008 | Uncertainty of measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) |
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